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     「粉体分析講座」 <出版記録/概要>
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「粉 体 分 析 講 座」

 
     
 

編  集:粉 体 工 学 会   発行/頒布所:/アイ・ティー・アイ(総合工学出版会)

 
   
 

目 次 (内容項目)

 
     
 

1章 試料全体の分析による平均的情報

1.
 原子スペクトル分析      
1.1
 ICP発光分析      
 1.1.1 はじめに
 1.1.2 ICP発光分析装置
  [1]ICP励起源
  [2 試料導入部
  [3] 分光器と検出器
  [4] データ処理部
 1.1.3 ICPでの測定にあたって
  [1]最適測定条件の設定
  [2 干  渉
  [3 分析線の測定
  [4 検出限界
1.1.4
実際の分析にあたって
1.2
 原子吸光分析法
 1.2.1 はじめに
 1.2.2 原子吸収分析の概要
 1.2.3 原子スペクトル(発光と吸光)
 1.2.4 原子吸光強度と濃度の関係
 1.2.5 どんな装置が用いられるか
  [1]光
  [2]試料原子化部
  [3]波長選択部
  [4]測
  [5]光
  [6]バックグランド吸光の補正
 1.2.6 原子吸光分析をどう実施するか
  [1]分析線の選択
  [2]ランプの電流値
  [3]分光器のスリット幅
  [4]検量線の直線領域
 [5]マトリックスの影響
 1.2.7 実際の分析ではどんな妨害があるか
 1.2.8 原子吸光測定を行うにあたって
  [1]容器の洗浄
  [2]雰
  [3]標準溶液の調製
  [4]標準溶液の保存
  [3]標準溶液の調整
  [4]標準溶液の保存
  [5]試料の前処理と汚染対策
 1.2.9 標準試料と標準化
 1.2.10 おわりに

2.
 X線スペクトル分析
2.1
 蛍光スペクトル分析
 2.1.1 手法の位置付け
 2.1.2 原  理
 2.1.3 装  置
 2.1.4 試料調製
 2.1.5 定性分析
 2.1.6 定量分析
  [1dj
  [2]FP
  [3]その他
                 
3.
振動スペクトル分析
3.1
 赤外分析(有機質)
 3.1.1 まえがき
 3.1.2 基礎理論
 3.1.3 粉体試料の一般的測定法
  [1KBr錠剤法による測定
  [2]ヌジョール法(流動パラフィン法)による測定
  [3]測定上の注意
 3.1.4 透過法を用いた典型的な測定例
  [1]定性分析
 [5]マトリックスの影響
 1.2.7 実際の分析ではどんな妨害があるか
 1.2.8 原子吸光測定を行うにあたって
  [1]容器の洗浄
  [2]雰
  [3]標準溶液の調製
  [4]標準溶液の保存
  [3]標準溶液の調整
  [4]標準溶液の保存
  [5]試料の前処理と汚染対策
 1.2.9 標準試料と標準化
 1.2.10 おわりに

2.
 X線スペクトル分析
2.1
 蛍光スペクトル分析
 2.1.1 手法の位置付け
 2.1.2 原  理
 2.1.3 装  置
 2.1.4 試料調製
 2.1.5 定性分析
 2.1.6 定量分析
  [1dj
  [2]FP
  [3]その他
                 
3.
振動スペクトル分析
3.1
 赤外分析(有機質)
 3.1.1 まえがき
 3.1.2 基礎理論
 3.1.3 粉体試料の一般的測定法
  [1KBr錠剤法による測定
  [2]ヌジョール法(流動パラフィン法)による測定
  [3]測定上の注意
 3.1.4 透過法を用いた典型的な測定例
  [1]定性分析
 [5]マトリックスの影響
 1.2.7 実際の分析ではどんな妨害があるか
 1.2.8 原子吸光測定を行うにあたって
  [1]容器の洗浄
  [2]雰
  [3]標準溶液の調製
  [4]標準溶液の保存
  [3]標準溶液の調整
  [4]標準溶液の保存
  [5]試料の前処理と汚染対策
 1.2.9 標準試料と標準化
 1.2.10 おわりに

2.
 X線スペクトル分析
2.1
 蛍光スペクトル分析
 2.1.1 手法の位置付け
 2.1.2 原  理
 2.1.3 装  置
 2.1.4 試料調製
 2.1.5 定性分析
 2.1.6 定量分析
  [1dj
  [2]FP
  [3]その他
                 
3.
振動スペクトル分析
3.1
 赤外分析(有機質)
 3.1.1 まえがき
 3.1.2 基礎理論
 3.1.3 粉体試料の一般的測定法
  [1KBr錠剤法による測定
  [2]ヌジョール法(流動パラフィン法)による測定
  [3]測定上の注意
 3.1.4 透過法を用いた典型的な測定例
  [1]定性分析
2]定量分析
  [3 赤外吸収スペクトルによる粉体の表面酸点の区別
  [4 赤外吸収スペクトルによる粉体の結晶化度 測定
  [5]高分子粉体との混合・粉砕による有機物結 晶の分子状態変化
  [6]高分子粉体との混合・加圧による有機物結晶の分子 状態変化
 3.1.5 特殊な測定法
  [1]拡散反射法
  [2]高感度反射法
  [3]全反射吸収(ATR)法
  [4]光音響分光法(PAS
  [5]発
 3.1.6 あとがき
3.2
 赤外分析(無機質)
 3.2.1 無機質試料の赤外分光法
 3.2.2 無機質試料の赤外スペクトルデータ
 3.2.3 無機質測定のための装置
 3.2.4 測定法(測定アタッチメント)
  [1]透
  [2]拡散反射法
  [3]光音響法
  [4]その他の方法
 3.2.5 試料の粒子径の影響
  [1]入射光の散乱
  [2]吸収の減少
  [3]相対強度比の変化
 3.2.6 応
  [1]官能基の同定
  [2]表面被覆物の定量
  [3]成分別粒子径の測定
  [4]酸
  [5]結
 3.2.6 おわりに
3.3
 ラマン分光分析
 3.3.1 はじめに
 3.3.2 ラマン分光分析の原理と測定方法
3.3.3
 測
  [1c-BN
  2]カーボンブラック
  [3]クラスタダイヤモンド
 3.3.4おわりに
               
4
 磁気共鳴スペクトル分析
4.1
 固体NMR
 4.1.1 はじめに
 4.1.2 NMRの基本
  [1]基本原理
  [2]装置の概要
  [3]測定の基本
 4.1.3固体試料のNMRスペクトル
  [1]線幅の原因
  [2]固体高分解能NMRにおける測定技術
 4.1.4 実際の測定手順と測定例
  [1]レアスピン(I=1/2
  [2]アバンダントスピン(I=1/2
3]核四極子を持つスピン
    (I=半整数)
  [4]核四極子を持つスピン
    (I=整数)
 4.1.5 おわりに
4.2
 ESR
 4.2.1 はじめに
 4.2.2 ESRの原理
 4.2.3 ESR装置の構成
 4.2.4 ESRの測定
 4.2.5 ESRスペクトルから得られる情報
  [1g因子
  [2]線  幅
  [3]強  度
  [4]超微細結合定数(hfc
4.2.6
 粉体におけるESRの対象
 4.2.7 応
  [1]粉体を直接測定して得られるESR
     シグナル
  [2]反応性の評価

2章 ビームプローブによる試料表面・局所の情報

1.
電子スペクトル分析
1.1
 XPS(ESCA)
 1.1.1 原  理 
 1.1.2 装置と機能
 1.1.3 測定とデータ解析
  [1]試料調製
  [2]表面組成分析
  [3]化学状態分析 
  [4]定量分析
  [5]オージェピークの解析
  [6]深さ方向分析
 1.1.4 おわりに
1.2
 オージェ電子スペクトル分析 
 1.2.1 はじめに
 1.2.2 オジェ電子分光の原理
 1.2.3 装置の概要と性能
 1.2.4 定量分析
 1.2.5 化学効果と状態分析
 1.2.6 絶縁性試料の分析 
 1.2.7 セラミックス材料への応用例
  [1]人工格子の多層構造の観察
  [2]析出物(不純物相)の分析
  [3]セラミックス粒界の観察

2.
X線スペクトル分析
2.1
 EPMAによる局所表面分析
 2.1.1 はじめに
2.1.2
 装置の構造
 2.1.3 よく用いられる代表的信号
  [1]二次電子
    (Secondary Eectron=SE
  [2]反射電子
    (Back Scattered electron=BSE
  [3]特性X
    (Characteristic X-ray
  [4]カソードルミネッセンス(Cathodo Luminescnce=CL
 2.1.4 X線分析の測定法
  [1]定性分析
  [2]定量分析
  [3]面
  [4]状態分析 
 2.1.5 おわりに
                 
3.
 イオン質量スペクトル分析
3.1
 二次イオン質量分析(SIMS
 3.1.1 はじめに
 3.1.2 SIMSの原理
 3.1.3 質量スペクトル
 3.1.4 SIMS装置
  [1]一次イオン照射系
  [2]二次イオン光学系
  [3]検
 3.1.5 SIMSの特長
 3.1.6 SIMSの応用分野
 3.1.7 SIMSの粉体・粒子試料への応用
  [1]試料の保持方法
  [2]チャージアップ対策
  [3]定量分析と標準試料
 1.3.8 SIMSの実際の応用例
  [1]粉体・粒子が1μmより大きい場合
  [21μm以下の粉体・粒子であっても それらがある固体物質の表面

    もしくは内部に分散して存在している場合
  [3]粉体・粒子を集合してまとめて扱う場合
 1.3.9 SIMSによる分析の限界と展望
 1.3.10 おわりに

3章 粉体の評価にとって必要なその他の化学分析 

1.
 熱
1.1
熱分析の定義と種類      
1.2
DTAとDSC
1.3
 TGとEGA
1.4
 その他の熱分析
1.5
 ま
                 
2.
 表面酸塩基点測定
2.1
 はじめに
2.2.
 固体表面の酸塩基
2.3
 酸塩基の定量的表現
 2.3.1 酸塩基の強さ
 2.3.2 固体表面の酸塩基の強さ
 2.3.3 酸塩基のサイト量
 2.3.4 ブレンステッド酸点,ルイス酸点
2.4
酸塩基の測定法
 2.4.1 湿
  [1]酸点の強度のみを測定する場合
  [2]酸強度分布
 2.4.2 ガス吸着法
 2.4.3 赤外線吸収スペクトル法
 2.4.4 その他の方法
  [1]吸着熱の測定 
2.5
 おわりに

3.
 液中微粒子の泳動とゼータ電位測定
3.1
 はじめに
3.2
 球形粒子の拡散電気二重

3.3 粒子の電気泳動
 3.3.1 ka≪1の場合
 3.3.2 ka≫1の場合
 3.3.3 緩和効果
 3.3.4 非球形粒子の泳動速度
 3.3.5 柔らかい粒子の電気泳動
3.4
 ゼータ電位測定法の分類と特徴
3.4.1
電気泳動法
 3.4.2 外力電位法
3.5
 泳動速度,ゼータ電位の測定法
 3.5.1 電気泳動法
  [1]顕微鏡電気泳動法
  [2]光散乱電気泳動法
  [3]移動境界法
  [4]電気泳動輸送法
  [5]電気浸透法
 3.5.2 外力電位法
  [1]超音波電位法
  [2]沈降電位法
  [3]流動電位法
3.6
 おわりに

 
   図書申し込みについて  

書   名:「粉体分析講座」

初版発行:1991年11月15日
体   裁:B5判 120ページ
定   価:2,800円本体2,667円)(送料は頒布所にて負担いたします)
大学生協をご利用いただいても結構です。書店扱いとして納品いたします。
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〒113-0033 東京都文京区本郷6-2-9 モンテベルで第2東大前306号
FAX.03-3361-7606   (TEL.03-3361-7619)
E-Mail.: iti-cosmos@iti-cosmos.com

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