| 粉 体 分 析 講 座 粉体工学会 編 |
| 頒 布 価：2,800円 会員特価：2,300円 体 裁：B5判 130ページ 頒 布 所：アイ・ティー・アイ（総合工学出版会） 申込要領：内容項目・末尾参照 |
| 【内容項目／目次】 第1章 試料全体の分析による平均的情報 1. 原子スペクトル分析 1.1 ＩＣＰ発光分析 1.1.1 はじめに 1.1.2 ＩＣＰ発光分析装置 ［1］ＩＣＰ励起源 ［2］ 試料導入部 ［3］ 分光器と検出器 ［4］ データ処理部 1.1.3 ＩＣＰでの測定にあたって ［1］最適測定条件の設定 ［2］ 干 渉 ［3］ 分析線の測定 ［4］ 検出限界 1.1.4 実際の分析にあたって 1.2 原子吸光分析法 1.2.1 はじめに 1.2.2 原子吸収分析の概要 1.2.3 原子スペクトル（発光と吸光） 1.2.4 原子吸光強度と濃度の関係 1.2.5 どんな装置が用いられるか ［1］光 源 部 ［2］試料原子化部 ［3］波長選択部 ［4］測 光 部 ［5］光 学 系 ［6］バックグランド吸光の補正 1.2.6 原子吸光分析をどう実施するか ［1］分析線の選択 ［2］ランプの電流値 ［3］分光器のスリット幅 ［4］検量線の直線領域 ［5］マトリックスの影響 1.2.7 実際の分析ではどんな妨害があるか 1.2.8 原子吸光測定を行うにあたって ［1］容器の洗浄 ［2］雰 囲 気 ［3］標準溶液の調製 ［4］標準溶液の保存 ［3］標準溶液の調整 ［4］標準溶液の保存 ［5］試料の前処理と汚染対策 1.2.9 標準試料と標準化 1.2.10 おわりに 2. X線スペクトル分析 2.1 蛍光スペクトル分析 2.1.1 手法の位置付け 2.1.2 原 理 2.1.3 装 置 2.1.4 試料調製 2.1.5 定性分析 2.1.6 定量分析 ［1］dj法 ［2］ＦP法 ［3］その他 3. 振動スペクトル分析 3.1 赤外分析（有機質） 3.1.1 まえがき 3.1.2 基礎理論 3.1.3 粉体試料の一般的測定法 ［1］KBr錠剤法による測定 ［2］ヌジョール法（流動パラフィン法）による測定 ［3］測定上の注意 3.1.4 透過法を用いた典型的な測定例 ［1］定性分析 ［2］定量分析 ［3］ 赤外吸収スペクトルによる粉体の表面酸点の区別 ［4］ 赤外吸収スペクトルによる粉体の結晶化度 測定 ［5］高分子粉体との混合・粉砕による有機物結 晶の分子状態変化 ［6］高分子粉体との混合・加圧による有機物結晶の分子 状態変化 3.1.5 特殊な測定法 ［1］拡散反射法 ［2］高感度反射法 ［3］全反射吸収（ATR）法 ［4］光音響分光法（PAS） ［5］発 光 法 3.1.6 あとがき 3.2 赤外分析（無機質） 3.2.1 無機質試料の赤外分光法 3.2.2 無機質試料の赤外スペクトルデータ 3.2.3 無機質測定のための装置 3.2.4 測定法（測定アタッチメント） ［1］透 過 法 ［2］拡散反射法 ［3］光音響法 ［4］その他の方法 3.2.5 試料の粒子径の影響 ［1］入射光の散乱 ［2］吸収の減少 ［3］相対強度比の変化 3.2.6 応 用 例 ［1］官能基の同定 ［2］表面被覆物の定量 ［3］成分別粒子径の測定 ［4］酸 化 数 ［5］結 晶 形 3.2.6 おわりに 3.3 ラマン分光分析 3.3.1 はじめに 3.3.2 ラマン分光分析の原理と測定方法 3.3.3 測 定 例 ［1］c-BN ［2］カーボンブラック ［3］クラスタダイヤモンド 3.3.4おわりに 4 磁気共鳴スペクトル分析 4.1 固体ＮＭＲ 4.1.1 はじめに 4.1.2 ＮＭＲの基本 ［1］基本原理 ［2］装置の概要 ［3］測定の基本 4.1.3固体試料のＮＭＲスペクトル ［1］線幅の原因 ［2］固体高分解能ＮＭＲにおける測定技術 4.1.4 実際の測定手順と測定例 ［1］レアスピン（Ｉ=1/2） ［2］アバンダントスピン（Ｉ=1/2） ［3］核四極子を持つスピン （Ｉ=半整数） ［4］核四極子を持つスピン （Ｉ=整数） 4.1.5 おわりに 4.2 ＥＳＲ 4.2.1 はじめに 4.2.2 ＥＳＲの原理 4.2.3 ＥＳＲ装置の構成 4.2.4 ＥＳＲの測定 4.2.5 ＥＳＲスペクトルから得られる 情報 ［1］g因子 ［2］線 幅 ［3］強 度 ［4］超微細結合定数（hfc） 4.2.6 粉体におけるＥＳＲの対象 4.2.7 応 用 例 ［1］粉体を直接測定して得られるＥＳＲ シグナル ［2］反応性の評価 |
| 第2章 ビームプローブによる試料表面・局所の情報 1.電子スペクトル分析 1.1 ＸＰＳ（ＥＳＣＡ） 1.1.1 原 理 1.1.2 装置と機能 1.1.3 測定とデータ解析 ［1］試料調製 ［2］表面組成分析 ［3］化学状態分析 ［4］定量分析 ［5］オージェピークの解析 ［6］深さ方向分析 1.1.4 おわりに 1.2 オージェ電子スペクトル分析 1.2.1 はじめに 1.2.2 オジェ電子分光の原理 1.2.3 装置の概要と性能 1.2.4 定量分析 1.2.5 化学効果と状態分析 1.2.6 絶縁性試料の分析 1.2.7 セラミックス材料への応用例 ［1］人工格子の多層構造の観察 ［2］析出物（不純物相）の分析 ［3］セラミックス粒界の観察 2.Ｘ線スペクトル分析 2.1 ＥＰＭＡによる局所表面分析 2.1.1 はじめに 2.1.2 装置の構造 2.1.3 よく用いられる代表的信号 ［1］二次電子 （Secondary Eectron=SE） ［2］反射電子 （Back Scattered electron=BSE） ［3］特性X線 （Characteristic X-ray） ［4］カソードルミネッセンス（Cathodo Luminescnce=CL） 2.1.4 Ｘ線分析の測定法 ［1］定性分析 ［2］定量分析 ［3］面 分 析 ［4］状態分析 2.1.5 おわりに 3. イオン質量スペクトル分析 3.1 二次イオン質量分析（SIMS） 3.1.1 はじめに 3.1.2 ＳＩＭＳの原理 3.1.3 質量スペクトル 3.1.4 ＳＩＭＳ装置 ［1］一次イオン照射系 ［2］二次イオン光学系 ［3］検 出 系 3.1.5 ＳＩＭＳの特長 3.1.6 ＳＩＭＳの応用分野 3.1.7 ＳＩＭＳの粉体・粒子試料への 応用 ［1］試料の保持方法 ［2］チャージアップ対策 ［3］定量分析と標準試料 1.3.8 ＳＩＭＳの実際の応用例 ［1］粉体・粒子が1μmより大きい場合 ［2］1μm以下の粉体・粒子であっても それらがある固体物質の表面 もしくは内部に分散して存在している場合 ［3］粉体・粒子を集合してまとめて扱う場合 1.3.9 ＳＩＭＳによる分析の限界と展望 1.3.10 おわりに |
| 第3章 粉体の評価にとって必要なその他の化学分析 1. 熱 分 析 1.1 熱分析の定義と種類 1.2 ＤＴＡとＤＳＣ 1.3 ＴＧとＥＧＡ 1.4 その他の熱分析 1.5 ま と め 2. 表面酸塩基点測定 2.1 はじめに 2.2. 固体表面の酸塩基 2.3 酸塩基の定量的表現 2.3.1 酸塩基の強さ 2.3.2 固体表面の酸塩基の強さ 2.3.3 酸塩基のサイト量 2.3.4 ブレンステッド酸点,ルイス酸点 2.4酸塩基の測定法 2.4.1 湿 式 法 ［1］酸点の強度のみを測定する場合 ［2］酸強度分布 2.4.2 ガス吸着法 2.4.3 赤外線吸収スペクトル法 2.4.4 その他の方法 ［1］吸着熱の測定 2.5 おわりに 3. 液中微粒子の泳動とゼータ電位測定 3.1 はじめに 3.2 球形粒子の拡散電気二重 3.3 粒子の電気泳動 3.3.1 ka≪1の場合 3.3.2 ka≫1の場合 3.3.3 緩和効果 3.3.4 非球形粒子の泳動速度 3.3.5 柔らかい粒子の電気泳動 3.4 ゼータ電位測定法の分類と特徴 3.4.1電気泳動法 3.4.2 外力電位法 3.5 泳動速度,ゼータ電位の測定法 3.5.1 電気泳動法 ［1］顕微鏡電気泳動法 ［2］光散乱電気泳動法 ［3］移動境界法 ［4］電気泳動輸送法 ［5］電気浸透法 3.5.2 外力電位法 ［1］超音波電位法 ［2］沈降電位法 ［3］流動電位法 3.6 おわりに |
| ■図書申込について： 「粉体分析講座」 ●定 価：2,800円（本体2,667円）（送料は頒布所にて負担いたします） ●会員特価：2,300円（粉体工学会／（社）粉体工業技術協会、企業、個人会員） ●大学生協をご利用いただいても結構です。書店扱いとして納品いたします。 ●図書申し込み頂きますと、請求書を添えて配本・送付させていただきます。 ■申込み要項： 1.図書名 2.部 数 3.図書送付先 4.申込者名 5.所在地 6.電話・FAX. 7.参加学協会名 8.公費の場合、その旨ご明記下さい。 ●上記をご明記の上、FAX.またはe-Mail にて下記へお申し込み下さい。 ■申込先：（株）アイティーアイ（総合工学出版会） 〒113-0033 東京都文京区本郷6-2-9 モンテベルで第2東大前306号 ●FAX.03-3361-7606 （TEL.03-3361-7619） ●e-Mail： iti-cosmos@iti-cosmos.com |
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